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功率循环测试设备

更新时间:2023-08-11 15:23:05
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详细介绍

      自主研制的功率循环设备可测试 Si/SiC/GaN/GaAs 材料的 IGBT、 MOSFET 和二极管等不同类型功率器件,包括焊接式封装和压接式封 装、硅基和碳化硅基等大功率器件可靠性测试。 标准机可同时测量 6 只待测样品(升级后可达 12 只),覆盖了 650V-6500V,0-6000A 全系列;功率循环达到秒级,zui短可到 50ms/ 周期,是目前国际上测试功率、电流以及效率zui高的设备,满足客户 不同需求以及服务于不同的行业,测试水平达到国际lingxian,填补了国 内的空白。 该设备聚焦和服务于新能源、电动汽车、轨道交通、智能电网、 智能制造等新一代电力电子技术大功率器件可靠性测试的应用领域。

        

产品特点:

       常规功率循环测试也被称为主动温度循环。为了提高功率循环的测试测试效率、测试精度和设备长期运行可靠性,本测试装备对常规 测试电路进行了创新性的改进,采用 3 条测试支路并联的方式,当一 条支路上的待测器件被电流加热时,其他支路上的待测器件正在被充 分冷却,极大的提高测试效率。另可选配 1 条辅助支路满足不同测试 要求。同时为了满足企业和科研院校的研发和教学需求,提供设备测 试功能和参数定制化服务,基本覆盖目前业内所有封装形式功率器件 的测试要求。 


技术亮点:

         团队经过 8 年的技术迭代和经验积累,研制了具有世界yi liu水平的功率循环测试设备,相比市面上其他设备,该设备具有的技术优势有: 

(1)可测试 Si/SiC/GaN/GaAs 材料的 IGBT、MOSFET 和二极管等深圳市泰斯特尔系统科技有限公司 深圳市龙岗区南湾街道东久创新科技园 3 栋 502 Fax: 0755-23303946 不同类型功率器件

(2)标准负载电流为 2000A,可扩展至 6000A,可满足市面 上所有器件的测试需求; 

(3)同时可进行 6 个待测器件的测试(可升级至 12 测试通道), 定制化服务可拓展到 24 个通道,极大的提高测试效率; 

(4)优化的温度系数校准方法,提高温度校准和结温测量的准 确性,并可自动生成校准文件; 

(5)针对不同封装形式的器件设计不同的测试夹具,保证测试 的一致性和准确性; 

(6)可进行秒级功率循环(开通时间<5s)和分钟级功率循环(开 通时间>15s),满足 AQG-324 测试标准,开通时间可达到 100ms。 

(7)可进行热阻(Rth)测试、瞬态热阻抗(Zth)测试,可作为全 面的热特性分析设备; 

(8)测量和记录每个循环的zui高结温、zui低结温、饱和压降和 热阻值,方便判断失效模式,无需进行昂贵和复杂的失效分析; 

(9)符合国标和行业标准 A、《 Automotive Power Module Guideline 》 AQG324。 B 、《 Semiconductor devices-Discrete devices-Part 9:Insulated- gate bipolar transistors (IGBT)》IEC 60747-9:2007。 根据 IEC60747-9,AQG324(2018)规定,可知 IGBT 失效判据为:集射极饱和压降上升 5%,热阻上升 20%,工程化的判定标准目 前根据饱和压降 Vcesat 和热阻 Rth。 

(10)自动化测试流程,24 小时无人值守,可远程监测实验和设 备状态,可靠性高;

(11)人机交互界面友好,方便操作和使用,配置多项安全措施, 保证人员和设备安全; 

(12)设备所有功能均可进行定制化设计,满足不同的测试需求 和范围,标准化系列产品有 1000A,2000A,3000A,4000A 和 6000A。


联系方式

  • 地址:深圳 深圳市龙岗区南湾街道下李朗南路东久创新科技园3栋5楼
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  • 电话:0755-23303946
  • 总监:施先生
  • Email:slj_2000221@163.com
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