深圳市泰斯特尔系统科技有限公司
离子迁移测试系统(高阻测试系统) , 导通电阻测试系统(导通电阻测试系统)
热变形形貌测量仪(TDM)

热变形形貌测量仪

       Insidix公司,是法国著 名的平整度特性测量,非破坏性测试提供全面解决方案的领 导 者,

为全球微电子工业,半导体行业、及PCB(线路板生产)工业提供先进的基板及封装测量解决方案。 


热变形试验机形貌测量仪产品特点

■无需光栅

■非接触式双面加热,上下表面温差小

■快速的升温,降温速率

■完美的Reflow模拟

■可同时测量warpage以及变形值,CTE等

■可测量BGA ball以及leader共面性和变形值

■可带球测试,可测试有阶梯高度的产品

■测量精度高

■可同时测量多个样品


热变形试验机形貌测量仪规格参数

zui大样品尺寸:300mm x300mm

zui小样品尺寸:0.5mm x 0.5m

视场范围: 10mmx10mm

                     --300mmx300mm

视场深度:  40mm

温度范围: -60℃~+300℃

升温速率: zui大6度每秒

降温速率: zui大3度每秒

3Dcamera: 1200万像素

测量精度: +/-1um(取决于镜头)




热变形试验机形貌测量仪应用说明


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