PXB-S系列探针台

PXB-S系列探针台主要特点

●可选配高温测试环境

●可选直筒显微镜和体式显微镜

●载物台可Z轴升降

●载物台Theta可粗调360°,  微调±7 °

●载物台XY移动分辨率为1um。

●可选配高压高流测试环境

●快速装片并可任意位置锁定功能

●显微镜支架万向杆

PXB-S系列探针台应用领域

●Failure analysis 集成电路失效分析

●Wafer level reliability 晶元可靠性认证

●Device characterization 元器件特性量测

●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) 

●IC Process monitoring 制成监控

●Package part probing IC封装阶段打线品质测试

●ESD&TDR testing  ESD和TDR测试

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

●Solar太阳能领域检测分析

●LED 、OLED 、LCD领域检测分析

●PCB领域检测分析

●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试

PXB-M系列探针台

PXB-M系列探针台主要特点

●可选配高温测试环境

●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜

●载物台可Z轴升降

●载物台Theta可粗调360°,  微调±7 °

●载物台XY移动分辨率为1um

●可选配高压高流测试环境

●快速装片并可任意位置锁定功能

●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显微镜气动升降

PXB-M系列探针台应用领域

●Failure analysis 集成电路失效分析

●Wafer level reliability 晶元可靠性认证

●Device characterization 元器件特性量测

●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) 

●IC Process monitoring 制成监控

●Package part probing IC封装阶段打线品质测试

●ESD&TDR testing  ESD和TDR测试

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

●Solar太阳能领域检测分析

●LED 、OLED 、LCD领域检测分析

●PCB领域检测分析

●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试

PXB-E系列探针台

PXB-E系列探针台主要特点

●可选配高温测试环境

●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜

●载物台气浮快速移动

●可选配高压高流测试环境

●快速装片并可任意位置锁定功能

●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显 微镜气动升降

●Platen 三阶抬杆， 微调移动行程为40mm，抬杆重复性精度为2um

PXB-E系列探针台应用领域

●Failure analysis 集成电路失效分析

●Wafer level reliability 晶元可靠性认证

●Device characterization 元器件特性量测

●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) 

●IC Process monitoring 制成监控

●Package part probing IC封装阶段打线品质测试

●ESD&TDR testing  ESD和TDR测试

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

●Solar太阳能领域检测分析

●LED 、OLED 、LCD领域检测分析

●PCB领域检测分析

●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试

PXB-BE系列探针台

PXB-BE系列探针台主要特点

●可选配高温测试环境

●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜

●载物台气浮快速移动， 三档控制，X轴独立控制，Y轴独立控制，XY同步控制，XY同步控制

●可选配高压高流测试环境

●快速装片并可任意位置锁定功能

●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显 微镜气动升降

●Platen 二阶抬杆， 微调移动行程为60mm，

抬杆重复性精度为1um

●配置独立控制压力阀

PXB-BE系列探针台应用领域

●Failure analysis 集成电路失效分析

●Wafer level reliability 晶元可靠性认证

●Device characterization 元器件特性量测

●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析)

 ●IC Process monitoring 制成监控

●Package part probing IC封装阶段打线品质测试

●ESD&TDR testing  ESD和TDR测试

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

●Solar太阳能领域检测分析

●LED 、OLED 、LCD领域检测分析

●PCB领域检测分析

●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试

PXB-BET系列探针台

PXB-BET系列高低温探针台主要特点

●搭配高低温系统， zui大范围-65℃到300℃

●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜

●载物台气浮快速移动， 三档控制，X轴独立 控制，Y轴独立控制，XY同步控制，XY同步 控制

●可选配高压高流测试环境

●装片拉出装置， 定位锁住

●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显 微镜气动升降

●Platen 二阶抬杆， 一次性行程为6mm， 抬

杆重复性精度为1um， 四点同步

●配置独立控制气流阀

PXB-BET系列高低温探针台应用领域

●Failure analysis 集成电路失效分析

●Wafer level reliability 晶元可靠性认证

●Device characterization 元器件特性量测

●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析)

 ●IC Process monitoring 制成监控

●Package part probing IC封装阶段打线品质测试

●ESD&TDR testing  ESD和TDR测试

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

●Solar太阳能领域检测分析

●LED 、OLED 、LCD领域检测分析

●PCB领域检测分析

●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试

PXB-D系列探针台

PXB-D系列探针台主要特点

●可选配高温测试环境

●可选直筒显微镜，体式显微镜 

●载物台气浮快速移动 

●可选配高压高流测试环境

●platen上下结构，可正反面同时扎针 

●载物台双面镂空，可替换，一个镂空夹具，一个 载物台（两个吸附孔）

●背置式直筒显微镜，zoom为0.58-7.5x 

●Platen 微调行程为40mm，移动分辨率为1um， 四点同步

PXB-D系列探针台应用领域

●Failure analysis 集成电路失效分析

●Wafer level reliability 晶元可靠性认证

●Device characterization 元器件特性量测

●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) 

●IC Process monitoring 制成监控

●Package part probing IC封装阶段打线品质测试

●ESD&TDR testing  ESD和TDR测试

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

●PCB领域检测分析

PXB-W系列探针台

PXB-W系列探针台主要特点

●可选配110Ghz，220Ghz等测试环境 

●搭配高低温系统，zui大范围-65℃到300℃ 

●可选直筒显微镜，体式显微镜或金相显微镜 

●载物台气浮快速移动，三档控制，X轴独立控制， Y轴独立控制，XY同步控制，XY同步控制 

●装片拉出装置，定位锁住 

●稳定型显微镜桥架，移动分辨率为2um，显微镜 气动升降 

●Platen 二阶抬杆，一次性行程为6mm，抬杆重复 性精度为1um，四点同步 

●配置独立控制气流阀

PXB-W系列探针台应用领域

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

PXB-PL系列探针台

PXB-PL系列探针台(定制型)

针对PCB&LCD&OLED&MINI-LED研发的测试探针台

主要客户：英业达，沪利，深南电路，美维，奥克斯，大金，龙腾光电，群策等

PXB-VL系列探针台

PXB-VL系列探针台产品简介

PXB- VL高低温真空探针台是我司自主研发的一款在极

端环境下给样品加载电学信号的设备。可以实现器件及材料表征的

IV/CV特性测试，射频测试 ，光电测试等。通过液氮或者压缩机制

冷 ，可以在防辐射屏内营造一个稳定的测试环境。在特殊材料 ，半

导体器件等研究方向具有广泛运用。一般用于相关单位实验室。

PXB-SA系列探针台

PXB-SA系列探针台产品简介

PXB-SA 系列探针台是一款在非真空条件下实现高低温环境的测试探针台。

该产品采用气冷制冷 ，自动控温 ，设备配置非常丰富。自带屏蔽暗

室 ，一方面可以屏蔽无线电磁干扰 ，另外一方面也可以保持氮气正

压环境下样品在低温时无结霜。该产品多数用于相关单位实验室。

PXB-SA系列探针台产品优势

可搭配高低温温控系统,温度范围为-60-300℃

可实现半自动测试

微腔屏蔽